X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀NEX QC是低成本能量色散X射線熒光（EDXRF）分析儀，用于固體、液體、粉末、合金和薄膜的元素分析。

作為一款低成本的臺(tái)式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，Rigaku理學(xué)NEX QC熒光光譜儀在堅(jiān)固的包裝中提供廣泛的元素覆蓋，配備易于學(xué)習(xí)的軟件界面，專為工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制應(yīng)用而設(shè)計(jì)。能夠非破壞性地分析幾乎任何基體中的元素，從鈉（Na）到鈾（U），包括固體、合金、粉末、液體、漿料和薄膜。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

具有智能手機(jī)界面的直觀軟件

Rigaku提供的硬化高分辨率觸摸顯示屏，薄膜鍵盤和落后的顯示屏現(xiàn)已成為過(guò)去。操作NEX QC系列元素分析儀給人以熟悉的感覺，可用手指選擇的圖標(biāo)能夠引導(dǎo)用戶完成常規(guī)分析操作。智能手機(jī)界面技術(shù)降低了擁有成本，因?yàn)樗?jiǎn)化了操作員培訓(xùn)并減少了操作員出錯(cuò)的可能性。

硅漂移檢波器技術(shù)

硅漂移檢波器(SDD)可實(shí)現(xiàn)極高的計(jì)數(shù)率，并具有出色的光譜分辨率。這使NEX QC+能夠在盡可能短的測(cè)量時(shí)間內(nèi)提供最高精度的分析結(jié)果。SDD獨(dú)特的工程特征是一系列環(huán)形電極生成的模截場(chǎng)，它會(huì)迫使電荷載體“漂移”到一個(gè)小集電極處。電流生成SDD檢波器將場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)移動(dòng)到輻射軌跡外，代表了傳統(tǒng)EDXRF檢波器技術(shù)的最尖端水平。

計(jì)算敏捷性

除了具有極強(qiáng)的易用性外，每個(gè)RigakuNEX QC系列元素分析儀還有運(yùn)行在嵌入式計(jì)算機(jī)上的精密軟件為其提供支持。經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)曲線可以是線性、二次或雙曲線擬合。此外，為了補(bǔ)償其他元素的存在，還可以啟用基于強(qiáng)度或濃度的阿爾法(α)校正（在有足夠的標(biāo)準(zhǔn)樣時(shí)自動(dòng)計(jì)算）。還提供有C/H校正，以補(bǔ)償輕元素矩陣變化和/或平均原子數(shù)變化。所有的校準(zhǔn)功能都可以通過(guò)用手指觸摸直觀的圖標(biāo)進(jìn)行訪問(wèn)。提供可選的基本參數(shù)(FP)包。

X射線光學(xué)器件

NEX QC系列采用50kVX射線管和帕爾貼制冷的半導(dǎo)體檢測(cè)器技術(shù)，可提供卓越的短期重復(fù)性和長(zhǎng)期重復(fù)性，具有優(yōu)異的元素峰分辨率。高電壓，以及多個(gè)自動(dòng)X射線管過(guò)濾器，提供了多元素分析能力，實(shí)現(xiàn)無(wú)與倫比的性能與最小檢測(cè)量(LOD)。光學(xué)器件由無(wú)需工具便可更換的安全膜保護(hù)。

X射線管的保護(hù)

通過(guò)僅在數(shù)據(jù)收集過(guò)程中操作，將X射線管的磨損減到最低—從而降低運(yùn)營(yíng)成本。

基本參數(shù)選項(xiàng)

顯著減少了實(shí)施高質(zhì)量校準(zhǔn)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣數(shù)量；這在難以獲得標(biāo)準(zhǔn)樣或者許多元素獨(dú)立變化的復(fù)雜基質(zhì)情況下特別有用。

內(nèi)置打印機(jī)

熱敏打印機(jī)可以在您需要時(shí)隨時(shí)隨地提供快速的打印分析結(jié)果。

免工具安全膜

不需要使用工具便可更換安全膜，從而保護(hù)了光學(xué)內(nèi)核并簡(jiǎn)化和加快了更換過(guò)程。

可拆卸的樣品盤

可預(yù)先加載以及調(diào)入和調(diào)出可互換的選配自動(dòng)進(jìn)樣器托盤，以提高效率或在吞吐量是重要考量的情況下使用。支持32mm和40mm杯。

單一位置或自動(dòng)進(jìn)樣器

標(biāo)準(zhǔn)的單一位置配置可以添加一個(gè)選配的自動(dòng)進(jìn)樣器。

工作原理

在X射線熒光法(XRF)中，X射線管吸收光（光子）會(huì)使電子從其原子軌道中射出。光子的能量(hν)必須大于電子與原子核結(jié)合的能量。當(dāng)內(nèi)軌道電子從原子中射出時(shí)（中間圖像），更高能級(jí)軌道的電子會(huì)進(jìn)行轉(zhuǎn)移以填補(bǔ)空出的軌道。轉(zhuǎn)移過(guò)程中可能會(huì)射出光子（右側(cè)圖像）。由于特定元素兩個(gè)特定軌道殼之間的能量差始終相同，因此射出的光子始終具有相同的特征能量(keV)。對(duì)熒光發(fā)射譜線而言，給定元素單位時(shí)間光子數(shù)（每秒計(jì)數(shù)，簡(jiǎn)稱cps）與樣品中該元素的含量有關(guān)。通過(guò)測(cè)量規(guī)定時(shí)間內(nèi)觀測(cè)到的各種元素X射線熒光譜線所檢測(cè)到的光子數(shù)（光譜峰數(shù)）來(lái)計(jì)算計(jì)數(shù)率。因此，定性和定量元素分析通過(guò)測(cè)定樣品光譜中X射線峰的能量以及測(cè)量它們的相關(guān)計(jì)數(shù)率來(lái)實(shí)現(xiàn)。

應(yīng)用行業(yè)